M-Pact精密|分析天平
M-class天平是专为实验室和学校初次使用天平的用户而设计。各种型号，从用于自然科学研究的便携式精密天平，到自动校准的高精度分析天平，一应俱全。
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- 赛多利斯称重技术，如快速测量结果和赛多利斯非凡的可靠性
- 质量好，性价比较高
- 结合实际的设计，即使是天平的初次使用者，也可高效、无误地使用该天平进行工作
M-Pact特点:
- 量程最大6,200 g
- 分辨率最大0.1 mg
- 自动内校
- 较大称量平台
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| 可读性 |
量程 |
校准 |
重复性 |
线性 |
秤盘尺寸 |
| AX124 |
| 120 g |
内校 |
0,1 mg |
± 0.0002 g |
± 0,0003 g |
Φ90 mm |
| AX224 |
| 220 g |
内校 |
0,1 mg |
± 0.0002 g |
± 0,0003 g |
Φ90 mm |
| AX423 |
| 420 g |
内校 |
1 mg |
± 0.002 g |
± 0,004 g |
Φ115 mm |
| AX623 |
| 620 g |
内校 |
1 mg |
± 0.002 g |
± 0,004 g |
Φ115 mm |
| AX822 |
| 820 g |
内校 |
10 mg |
± 0.02 g |
± 0,04 g |
Φ150 mm |
| AX2202 |
| 2,2 kg |
内校 |
10 mg |
± 0.02 g |
± 0,04 g |
180 x 180 mm |
| AX4202 |
| 4,2 kg |
内校 |
10 mg |
± 0.02 g |
± 0,04 g |
180 x 180 mm |
| AX6202 |
| 6,2 kg |
内校 |
10 mg |
± 0.02 g |
± 0,04 g |
180 x 180 mm |
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